2006
Wear out failure mechanisms in aluminium and gold based LDMOS RF power applications.
[DOI]
P. J. van der Wel
,
S. J. C. H. Theeuwen
,
J. A. Bielen
,
Y. Li
,
R. A. van den Heuvel
,
J. G. Gommans
,
F. van Rijs
,
P. Bron
,
H. J. F. Peuscher
Microelectron. Reliab., 2006